Subhasish Mitra, Norbert Seifert, Ming Zhang, Quan Shi, Kee Sup Kim
Subhasish Mitra, Norbert Seifert, Ming Zhang, Quan Shi, Kee Sup Kim
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DOI：
10.1109/mc.2005.70
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
S. Mitra;N. Seifert;Ming Zhang;Q. Shi;Kee-sup Kim
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Mitra;N. Seifert;Ming Zhang;Q. Shi;Kee-sup Kim
地面辐射引起的瞬态误差对稳健的系统设计构成了主要障碍。在先进技术中，系统对此类错误的敏感性增加，因此将有效的保护机制纳入芯片设计中至关重要。新的设计范例重用可测试性设计和调试资源来消除此类错误。
Transient errors caused by terrestrial radiation pose a major barrier to robust system design. A system's susceptibility to such errors increases in advanced technologies, making the incorporation of effective protection mechanisms into chip designs essential. A new design paradigm reuses design-for-testability and debug resources to eliminate such errors.