低エネルギーX線を用いた斜入射小角X線散乱法による高分子薄膜の深さ分解構造解析
低エネルギーX線を用いた斜入射小角X線散乱法による高分子薄膜の深さ分解構造解析
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利用低能 X 射线斜入射小角 X 射线散射法对聚合物薄膜进行深度分辨结构分析
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
斎藤樹・山本勝宏
中科院分区：
文献类型：
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作者：
平林勇輝;大竹優也;アルブレヒト建;山元公寿;斎藤樹・山本勝宏
