Y.Chikaura and M.Imai: "Morphology of microdefects in asーgrown thinned silicon crystals observed by synchrotron Xーradiation planeーwave topography" Jpn.J.Appl.Phys.29. 221-225 (1990)
Y.Chikaura and M.Imai: "Morphology of microdefects in asーgrown thinned silicon crystals observed by synchrotron Xーradiation planeーwave topography" Jpn.J.Appl.Phys.29. 221-225 (1990)
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Y.Chikaura 和 M.Imai：“通过同步加速器 X 辐射平面波形貌观察生长的薄硅晶体中微缺陷的形态”Jpn.J.Appl.Phys.221-225 (1990)。
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