周辺回路を含む証AES-LSIへのスキャンベース攻撃

周辺回路を含む証AES-LSIへのスキャンベース攻撃
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对包括外围电路在内的 AES-LSI 进行基于扫描的攻击

DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
大附辰夫
大附辰夫
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
奈良竜太;戸川望;柳澤政生;大附辰夫

文献摘要

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