An 807 Mrad total dose tolerance of an optically reconfigurable gate array VLSI
An 807 Mrad total dose tolerance of an optically reconfigurable gate array VLSI
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光学可重构门阵列 VLSI 的总剂量耐受性为 807 Mrad
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Watanabe Minoru
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Fujimori Takumi;Watanabe Minoru
