The first beam test of a monolithic particle pixel detector in high-voltage CMOS technology
The first beam test of a monolithic particle pixel detector in high-voltage CMOS technology
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高压 CMOS 技术中单片粒子像素探测器的首次光束测试
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
P. Fischer
中科院分区：
文献类型：
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作者：
I. Perić;C. Takács;J. Behr;F. Wagner;P. Fischer
