ニューロン電子回路による高速ハミング距離検出回路の提案とチップ評価
ニューロン電子回路による高速ハミング距離検出回路の提案とチップ評価
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使用神经元电子电路的高速汉明距离检测电路的提案及芯片评估
DOI:
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发表时间:
2023
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
藤本 邦昭
中科院分区:
文献类型:
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作者:
西口 大嗣;福原 雅朗;矢原 充敏;藤本 邦昭