ダブルプローブAFMによるフォトクロミック単結晶薄膜境界の連続計測
ダブルプローブAFMによるフォトクロミック単結晶薄膜境界の連続計測
复制标题
使用双探针 AFM 连续测量光致变色单晶薄膜边界
DOI：
--
复制
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
成瀬 誠
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
鈴井 洸胤;内山 和治;内田 欣吾;ニコラ ショヴェ;堀﨑 遼一;堀 裕和;成瀬 誠
