Young's Double-Slit Interference Experiment of Hot Electron in Semiconductors

Young's Double-Slit Interference Experiment of Hot Electron in Semiconductors
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半导体中热电子的杨氏双缝干涉实验

DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
Sixth International Conference on New Phenomena in Mesoscopic Systems & Fourth International Conference on Surfaces and Interfaces of Mesoscopic Devices 1.6
影响因子：
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通讯作者：
et al.
et al.
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
K.Furuya;et al.

文献摘要

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