Thickness Dependent Metal-Insulator Transition in Ru Nanosheets Probed by Low-Energy Inverse Photoelectron Spectroscopy
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低能反光电子能谱探测钌纳米片中厚度依赖性金属-绝缘体转变
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and H. Yoshida
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Kawamura;D. Ootsuki;T. Ishida;T. Yoshida;M. Morita;K. Fukuda;and H. Yoshida
