T.Shimatani: "Device Characteristic Variation in 0.01μm MOSFET Evaluated by Three-Dimensional Monte Carlo Simulation" Digest of Silicon Nanoelectronics Workshop 1997. 16-17 (1997)
T.Shimatani: "Device Characteristic Variation in 0.01μm MOSFET Evaluated by Three-Dimensional Monte Carlo Simulation" Digest of Silicon Nanoelectronics Workshop 1997. 16-17 (1997)
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T. Shimatani：“通过三维蒙特卡罗模拟评估 0.01μm MOSFET 的器件特性变化”硅纳米电子学研讨会摘要 1997. 16-17 (1997)
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