Kimio OKUNO: "Evaluation of Ultrathin Si Growth Layer on W, Mo and Ta Surfaces with Field Emission and Field lon Microscopies" Jpn. J. Appl. Phys.34. 5783-5788 (1995)
Kimio OKUNO: "Evaluation of Ultrathin Si Growth Layer on W, Mo and Ta Surfaces with Field Emission and Field lon Microscopies" Jpn. J. Appl. Phys.34. 5783-5788 (1995)
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Kimio OKUNO：“利用场发射和场 lon 显微镜评估 W、Mo 和 Ta 表面上的超薄硅生长层”Jpn。
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