A new semi-formal approach to functional testing

A new semi-formal approach to functional testing
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一种新的半正式功能测试方法

DOI:
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发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
藤田 昌宏
藤田 昌宏
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
岡本朋大;川尾太郎;河野崇;藤田昌宏;Kentaro Sano;藤田 昌宏;Kentaro Sano;藤田 昌宏

文献摘要

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