液晶装荷マッハ・ツェンダー干渉計Si導波路の強度変調の観測
液晶装荷マッハ・ツェンダー干渉計Si導波路の強度変調の観測
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使用装有液晶的马赫-曾德干涉仪观察硅波导中的强度调制
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
井波 由丈
中科院分区：
文献类型：
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作者：
井波 由丈;T.Nakagami;K.Nakatsuhara;Y.Inami;T.Yamada;井波 由丈
