CMOS LSIのESD/Latch-up故障の解析-実データでの故障モード解析-

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CMOS LSI的ESD/Latch-up故障分析 -使用实际数据的故障模式分析-

DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
福本聡
福本聡
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
小日向秀雄;新井雅之;福本聡

文献摘要

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