MEMS技術を応用した多点法走査形状測定用センサデバイスの開発(第7報)―デバイス探針の摩耗評価装置の製作―

MEMS技術を応用した多点法走査形状測定用センサデバイスの開発(第7報)―デバイス探針の摩耗評価装置の製作―
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应用MEMS技术的多点扫描形状测量传感器装置的开发(第7次报告) - 装置探针磨损评价装置的制作 -

DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
清水浩貴
清水浩貴
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
M.Jin;T.Iizuka;神雅彦,飯塚卓也;神雅彦;神雅彦,吉川研一;神 雅彦,中立 亘,金井 秀生,小玉 満;神 雅彦,中立 亘,金井 秀生,小玉 満;林 正弘,神 雅彦;鬼鞍宏猷,神雅彦;山下亮祐;Hiroki Shimizu;Hiroki Shimizu;清水浩貴

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