Full-field fabric stress mapping by micro Raman spectroscopy in a yarn push-out test
Full-field fabric stress mapping by micro Raman spectroscopy in a yarn push-out test
复制标题
在纱线推出测试中通过显微拉曼光谱绘制全场织物应力图
DOI：
10.1364/ao.57.000924
复制
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
Chen X.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Lei Z. K.;Qin F. Y.;Fang Q. C.;Bai R. X.;Qiu W.;Chen X.
