Conduction Currents and Paramagnetic Defect Centers in UV-Illuminated Silicon Nitride Films
Conduction Currents and Paramagnetic Defect Centers in UV-Illuminated Silicon Nitride Films
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紫外照射氮化硅薄膜中的传导电流和顺磁缺陷中心
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Kobayashi and K. Ishikawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
V. M. Mohan;M. Shimomura;K. Murakami;K. Kobayashi and K. Ishikawa
