二重ベータ崩壊探索のためのXe比例シンチレーションTPC検出器用MPPCの性能評価
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双 β 衰变搜索 Xe 比例闪烁 TPC 探测器的 MPPC 性能评估
DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
石山優貴
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Guyon;Olivier;Masahiro Takada;J. Yokoyama;石山優貴