レイアウト起因LSI欠陥検出のためのFSGANを用いたデータ拡張に関する検討
レイアウト起因LSI欠陥検出のためのFSGANを用いたデータ拡張に関する検討
复制标题
利用FSGAN进行布局引起的LSI缺陷检测的数据扩展研究
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
杉岡拓海,永村美一,新井雅之,福本聡
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yoshikazu Nagamura;Takashi Ide;Masayuki Arai;Satoshi Fukumoto;山中祐輝,永村美一,新井雅之,福本聡;杉岡拓海,永村美一,新井雅之,福本聡
