Linearly decayed evanescent optical field in planar refractive index well
Linearly decayed evanescent optical field in planar refractive index well
复制标题
平面折射率阱中线性衰减的倏逝光场
DOI：
10.1016/j.optcom.2016.09.054
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发表时间：
2017-04
影响因子：
2.4
通讯作者：
Li Tao
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Jianhua Liua;Li Tao
从理论上分析了一维折射率阱（RIW）平面结构在临界入射角处的线性衰减光场。倏逝场的线性是由于第二折射率屏障的存在，其也使全内反射（TIR）的位置远离临界角移动。衰减速率由两个势垒的折射率以及阱的宽度决定。利用这种线性衰减的倏逝场（LDEF），可以通过LDEF的适当组合来形成跨阱的各种轮廓，例如均匀轮廓，这可以促进在分子尺度的材料分析和传感领域中的新应用。
Evanescent optical field with linearly decaying profile is theoretically analyzed at the critical angle of incidence in a planar structure of one dimensional refractive index well (RIW). The linearity of the evanescent field is due to the presence of the second refractive index barrier, which also shifts the position of total internal reflection (TIR) away from the critical angle. The decaying rate is determined by the refractive indices of the two barriers, as well as the width of the well. With this linearly decayed evanescent field (LDEF), various profiles across the well, for example uniform one, can be formed via appropriate combination of the LDEFs, which can promote new applications in fields of material analysis and sensing in the molecular scale.
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影响因子：
2.5
作者：
J. Midwinter
通讯作者：
J. Midwinter
影响因子：
--
作者：
R. Ulrich
通讯作者：
R. Ulrich
DOI：
10.1364/cleo_si.2013.cm4o.7
发表时间：
2013-06
期刊：
CLEO: 2013
影响因子：
--
作者：
M. Liscidini;S. Pirotta;Xiaoji G. Xu;A. Delfan;Srinivasan Mysore;S. Maiti;G. Dacarro;M. Patrini;M. Galli;G. Guizzetti;D. Bajoni;J. Sipe;G. Walker
通讯作者：
M. Liscidini;S. Pirotta;Xiaoji G. Xu;A. Delfan;Srinivasan Mysore;S. Maiti;G. Dacarro;M. Patrini;M. Galli;G. Guizzetti;D. Bajoni;J. Sipe;G. Walker
影响因子：
4
作者：
Robertson, WM;May, MS
通讯作者：
May, MS
影响因子：
4
作者：
Michelotti, Francesco;Descrovi, Emiliano
通讯作者：
Descrovi, Emiliano