Characterization of Multi-Layer Graphene by Using Low-Voltage Electron Diffraction Microscopy
Characterization of Multi-Layer Graphene by Using Low-Voltage Electron Diffraction Microscopy
复制标题
使用低压电子衍射显微镜表征多层石墨烯
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Shinohara,and K. Gohara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Dobashi;O. Kamimura;Y. Maehara;R. Kitaura;H. Shinohara,and K. Gohara
