Study of plastic deformation mechanisms in TA15 titanium alloy by combination of geometrically necessary and statistically-stored dislocations
Study of plastic deformation mechanisms in TA15 titanium alloy by combination of geometrically necessary and statistically-stored dislocations
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结合几何必要位错和统计存储位错研究TA15钛合金塑性变形机制
DOI：
10.3139/146.111438
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发表时间：
2016-11
影响因子：
0.8
通讯作者：
Yasmeen Tabassam
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
He Dong;Li Qiang;Yan Yu;Huang Xiguang;Yasmeen Tabassam
摘要本研究结合几何必要位错分析与记忆储存位错辨识，探讨TA 15钛合金之塑性变形机制。在室温下进行了不同应变的拉伸试验。用高分辨扫描电子显微镜观察并鉴定了滑移线。基于应变梯度理论计算了几何必需位错。利用透射电子显微镜在两种束流条件下研究了晶体中的位错。结果表明，随着应变从0.8%增加到2.0%，-型几何必要位错密度与-型几何必要位错密度之比从5 ~ 8减小到1 ~ 3。在塑性变形的早期阶段，以-型滑移为主，随着变形应变的进一步增加，-型滑移逐渐占主导地位。
Abstract This study combines geometrically necessary dislocation analysis and statistically-stored dislocation identification to investigate plastic deformation mechanisms in TA15 titanium alloy. Tensile tests were conducted up to different strains at room temperature. The slip lines were observed and identified using high resolution scanning electron microscopy. Geometrically necessary dislocations were calculated based on strain gradient theories. The statistically-stored dislocations were studied using transmission electron microscopy under two beam conditions. The results indicate that the ratio of -type geometrically necessary dislocation density to -type decreases from 5 – 8 to 1 – 3 with increasing strain from 0.8 % to 2.0 %. The -type slip is the dominant deformation mechanism at the early stage of plastic deformation, whereas -slips become dominant with further increase in deformation strain.
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DOI：
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发表时间：
1988-04
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
M. Donachie
通讯作者：
M. Donachie
DOI：
10.1002/3527602119
发表时间：
2005-01
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
C. Leyens;M. Peters
通讯作者：
C. Leyens;M. Peters
影响因子：
2.7
作者：
Liu, G. S.;Robertson, I. M.
通讯作者：
Robertson, I. M.
DOI：
10.1007/bf02811542
发表时间：
1970-01-01
期刊：
METALLURGICAL TRANSACTIONS
影响因子：
--
作者：
CHIN, GY;MAMMEL, WL
通讯作者：
MAMMEL, WL
影响因子：
9.8
作者：
J. Kysar;Yuki Saito;M. S. Oztop;Dongyun Lee;W. T. Huh
通讯作者：
J. Kysar;Yuki Saito;M. S. Oztop;Dongyun Lee;W. T. Huh