High-contrast imaging of nano-channels using reflection near-field scanning optical microscope enhanced by optical interference
High-contrast imaging of nano-channels using reflection near-field scanning optical microscope enhanced by optical interference
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使用光学干涉增强反射近场扫描光学显微镜对纳米通道进行高对比度成像
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Sakai;M.
