Measurement of Profile of Micro X-ray Beam

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微X射线束轮廓测量

DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Proc. of the 19^<th> workshop on Radiation Detectors and Their Uses. 19
影响因子：
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通讯作者：
T.Iida
T.Iida
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
T.Kuchimaru;Y.Higashino;F.Sato;Y.Kato;T.Iida

文献摘要

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