Transmission electron microscopy of Co_2(Cr_<1-x>Fe_x)Al sputtered films and their magnetic tunneling junctions

Transmission electron microscopy of Co_2(Cr_<1-x>Fe_x)Al sputtered films and their magnetic tunneling junctions
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Co_2(Cr_<1-x>Fe_x)Al溅射薄膜及其磁隧道结的透射电子显微镜

DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
J.Mag.Mag.Meter 313
影响因子：
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通讯作者：
Y.K. Takahashi
Y.K. Takahashi
中科院分区：
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文献类型：
--
作者：
A. Rajanikanth;D. Kande;Y. K. Takahashi;and H. Hono;T.M. Nakani;Z. Gercsi;S.V. Karthik;Y.K. Takahashi

文献摘要

参考文献

被引文献

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发表时间： 2004-04-01
期刊： PHYSICAL REVIEW B
影响因子： 3.7
作者：
Miura, Y;Nagao, K;Shirai, M
通讯作者： Shirai, M