畳み込みニューラルネットワークを用いたテストパターンの再生

畳み込みニューラルネットワークを用いたテストパターンの再生
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使用卷积神经网络重放测试模式

DOI:
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发表时间:
2019
期刊:
第32回 回路とシステムワークショップ (KWS 32) 論文集
影响因子:
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通讯作者:
樋上 喜信
樋上 喜信
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
稲元 勉;樋上 喜信

文献摘要

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