On synthetic benchmark generation methods
On synthetic benchmark generation methods
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综合基准生成方法
DOI：
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发表时间：
2000
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
D. Stroobandt
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. Verplaetse;J. V. Campenhout;D. Stroobandt
在设计复杂芯片和系统的过程中，通常需要使用基准设计。然而，现有的基准套件不足以评估新的架构和EDA工具，合成基准电路是一个可行的替代方案。在本文中，一个系统的方法产生和评估的综合基准电路。一些现有的基准生成方法检查使用直接验证的大小和拓扑参数。这暴露了不同方法的某些特征和缺点。
In the process of designing complex chips and systems, the use of benchmark designs is often necessary. However, the existing benchmark suites are not sufficient for the evaluation of new architectures and EDA tools; synthetic benchmark circuits are a viable alternative. In this paper, a systematic approach for the generation and evaluation of synthetic benchmark circuits is presented. A number of existing benchmark generation methods are examined using direct validation of size and topological parameters. This exposes certain features and drawbacks of the different methods.