Holistic Power Side-Channel Leakage Assessment: Towards a Robust Multidimensional Metric
Holistic Power Side-Channel Leakage Assessment: Towards a Robust Multidimensional Metric
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整体电源侧通道泄漏评估：迈向稳健的多维指标
DOI：
10.1109/iccad45719.2019.8942098
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Kastner, Ryan
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Althoff, Alric;Blackstone, Jeremy;Kastner, Ryan
DOI：
10.1007/978-3-662-45611-8_13
发表时间：
2014-12
期刊：
IACR Cryptol. ePrint Arch.
影响因子：
--
作者：
Luke Mather;E. Oswald;C. Whitnall
通讯作者：
Luke Mather;E. Oswald;C. Whitnall
快速泄漏评估
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
Workshop on Cryptographic Hardware and Embedded Systems
影响因子：
--
作者：
Oscar Reparaz;Benedikt Gierlichs;I. Verbauwhede
通讯作者：
I. Verbauwhede