A.,Taguchi,T.Miyoshi Y.Takaya,S.Takahashi: "3D Micro-Profile Mesurement using Optical Inverse Scattering Phase Method"Annuals of the CILP. 49/1. 423-426 (2000)
A.,Taguchi,T.Miyoshi Y.Takaya,S.Takahashi: "3D Micro-Profile Mesurement using Optical Inverse Scattering Phase Method"Annuals of the CILP. 49/1. 423-426 (2000)
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A.，Taguchi，T.Miyoshi Y.Takaya，S.Takahashi：“使用光学反散射相位法的 3D 微轮廓测量”CILP 年鉴。
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