Localization of weak heat sources in electronic devices using highly sensitive lock-in thermography
Localization of weak heat sources in electronic devices using highly sensitive lock-in thermography
复制标题
使用高灵敏度锁定热成像技术定位电子设备中的弱热源
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Langenkamp
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Rakotoniaina;O. Breitenstein;M. Langenkamp
