S.Wei et al.: "Local Structures of Dilute Impurities in Si Crystal Studied by Fluorescence XAFS"J.Synchrotron Rad.. 6. 573-575 (1999)
S.Wei et al.: "Local Structures of Dilute Impurities in Si Crystal Studied by Fluorescence XAFS"J.Synchrotron Rad.. 6. 573-575 (1999)
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S.Wei 等：“通过荧光 XAFS 研究硅晶体中稀释杂质的局域结构”J.Synchrotron Rad.. 6. 573-575 (1999)
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