Modification by H-termination in growth process of titanium silicide on Si(001)-(2x1) observed with scanning tunneling microscopy
Modification by H-termination in growth process of titanium silicide on Si(001)-(2x1) observed with scanning tunneling microscopy
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用扫描隧道显微镜观察硅化钛在 Si(001)-(2x1) 上生长过程中 H 终止的修饰
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Tanaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Aoki;K. Shudo;K. Sato;S. Ohno;H. Nishioka;T. Iida;M. Toramaru;M. Tanaka
