陽子線写真撮像のためのシリコンマイクロストリップ検出器を使った陽子線測定システムの開発
陽子線写真撮像のためのシリコンマイクロストリップ検出器を使った陽子線測定システムの開発
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采用硅微带探测器进行质子束摄影成像的质子束测量系统的开发
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
皿谷有一・他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
皿谷有一・他
