Sub-terahertz devices and test metrology
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复制标题
亚太赫兹设备和测试计量
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hwang, J. C.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Li, L.;Asadi, M. J.;Li, T.;Wang, X.;Hwang, J. C.
