二次元検出器を用いた多結晶体のX線回折図形の全パターンフィッティングによる配向性・応力場同時解析
二次元検出器を用いた多結晶体のX線回折図形の全パターンフィッティングによる配向性・応力場同時解析
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使用二维探测器对多晶材料的 X 射线衍射图谱进行全图谱拟合同时分析取向和应力场
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
瀬戸 雄介
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Sakuma;H. O. Sorensen;J. Kawano;H. Nakao;Y. Yamasaki;瀬戸 雄介
