Direct Observation of Magnetic Depth Profile with a Depth-Resolved X-Ray Magnetic Dichroism Technique
Direct Observation of Magnetic Depth Profile with a Depth-Resolved X-Ray Magnetic Dichroism Technique
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利用深度分辨 X 射线磁二色性技术直接观察磁深度剖面
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Yokoyama et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Amemiya;T.Yokoyama et al.
Cu(001) 上类面心立方 Fe(001) 薄膜的磁性和结构的穆斯堡尔效应研究。
影响因子：
8.6
作者：
Ellerbrock;Fuest;Schatz;Keune;Brand
通讯作者：
Brand
Fe/Cu(001) 覆盖层的自旋分辨表观势能谱研究
影响因子：
3.7
作者：
V. Popescu;H. Ebert;L. Szunyogh;P. Weinberger;M. Donath
通讯作者：
M. Donath