Comparative study on deconvolution function dependencies of RTN/RDF effect estimation errors in analyzing sub-nm-scaled SRAM margins
Comparative study on deconvolution function dependencies of RTN/RDF effect estimation errors in analyzing sub-nm-scaled SRAM margins
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分析亚纳米级 SRAM 余量时 RTN/RDF 效应估计误差的反卷积函数依赖性的比较研究
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroyuki Yamauchi and Worawit Somha
中科院分区：
文献类型：
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作者：
伊原佑介;山内潤治;中野久松;Hiroyuki Yamauchi and Worawit Somha
