橋本,槙田,遠藤: "Characterization of thin film materials by 400kV electron microscope images and with an energy filter" Materials chemistry and physics. 46. 7-14 (1996)
橋本,槙田,遠藤: "Characterization of thin film materials by 400kV electron microscope images and with an energy filter" Materials chemistry and physics. 46. 7-14 (1996)
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Hashimoto、Makita、Endo：“通过 400kV 电子显微镜图像和能量滤波器表征薄膜材料”材料化学和物理 46. 7-14 (1996)。
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