テラヘルツ時間領域分光法を用いた高温超伝導体の面内異方性測定法の開発 II
テラヘルツ時間領域分光法を用いた高温超伝導体の面内異方性測定法の開発 II
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利用太赫兹时域光谱技术开发高温超导体面内各向异性测量方法II
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
末木聖大,中村公大,HAWECKER J.,MANGENEY J.,TIGNON J.,DHILLON S. S.,掛谷一弘
中科院分区：
文献类型：
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作者：
園田 航,松浦 健人,田中 恵理,羽尻 哲也;浅野 秀文;末木聖大,中村公大,HAWECKER J.,MANGENEY J.,TIGNON J.,DHILLON S. S.,掛谷一弘
