Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application

Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application
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通过优化测试模式应用顺序来减少故障字典大小

DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications
影响因子：
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通讯作者：
Kewal K. Saluja
Kewal K. Saluja
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Yoshinobu Higami;Tsutomu Inamoto;Senling Wang;Hiroshi Takahashi;Kewal K. Saluja

文献摘要

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