基于概率CMOS模型的反馈环路的数字电路容错特性分析
基于概率CMOS模型的反馈环路的数字电路容错特性分析
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DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
杨泽国
中科院分区：
文献类型：
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作者：
李妍;胡剑浩;杨泽国
