透過型電子顕微鏡を用いた単結晶シリコンの疲労破壊起点の観察
透過型電子顕微鏡を用いた単結晶シリコンの疲労破壊起点の観察
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使用透射电子显微镜观察单晶硅的疲劳断裂起源
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
泉隼人，喜多俊文，荒井重勇，佐々木勝寛
中科院分区：
文献类型：
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作者：
X. Wang;K. Hanaki;T. Kurashiki;K. Mukoyoma;X. Li;泉隼人，喜多俊文，荒井重勇，佐々木勝寛
