Tomo Ikebe, Yasushi Niitsu, Yusei Ohkubo and Teruki Ikeda: ""Stress Evaluation of Si Single Crystal by Raman Spectroscopy""Trans. of JSME. 65, No.638A. 2157-2162 (1999)
Tomo Ikebe, Yasushi Niitsu, Yusei Ohkubo and Teruki Ikeda: ""Stress Evaluation of Si Single Crystal by Raman Spectroscopy""Trans. of JSME. 65, No.638A. 2157-2162 (1999)
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Tomo Ikebe、Yasushi Niitsu、Yusei Ohkubo 和 Teruki Ikeda：“通过拉曼光谱法评估硅单晶的应力”Trans。
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