Ge・SiCナノドットのSiC層によるキャッピングと光学特性評価
Ge・SiCナノドットのSiC層によるキャッピングと光学特性評価
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用 SiC 层覆盖 Ge/SiC 纳米点并评估光学性能
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
安井寛治
中科院分区：
文献类型：
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作者：
須藤晴紀;黒田朋義;加藤有行;西山洋;赤羽正志;高田雅介;安井寛治
