高移動度二次元電子系に作製された量子細線における電流揺らぎの測定

高移動度二次元電子系に作製された量子細線における電流揺らぎの測定
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高迁移率二维电子系统中制造的量子线中电流波动的测量

DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
K. Ensslin
K. Ensslin
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
西原禎孝;小野輝男;荒川智紀;田辺賢士;田中崇大;則元将太;小林研介;T. Ihn;C;Rössler;K. Ensslin

文献摘要

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