X-ray CTR scattering and interference for atomic-scale characterization of semiconductor heterostructures
X-ray CTR scattering and interference for atomic-scale characterization of semiconductor heterostructures
复制标题
用于半导体异质结构原子级表征的 X 射线 CTR 散射和干涉
DOI：
10.1016/s0022-0248(01)01941-8
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发表时间：
2002
影响因子：
1.8
通讯作者：
M. Tabuchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Takeda;M. Tabuchi
