A Scanning Tunneling Microscopy Study of Ultrathin Film Rutile TiO 2 (110) Supported on W(100)-O(2 × 1)
A Scanning Tunneling Microscopy Study of Ultrathin Film Rutile TiO 2 (110) Supported on W(100)-O(2 × 1)
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W(100)-O(2 × 1) 上超薄膜金红石 TiO 2 (110) 的扫描隧道显微镜研究
DOI：
10.1021/jp409948u
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Pang C
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Pang C
金红石 TiO2(110) 超薄膜在 W(100)-O(2 × 1) 表面上生长，并结合扫描隧道显微镜 (STM) 和低能电子衍射 (LEED) 进行表征。 LEED 显示金红石 TiO2(110) 存在两个正交旋转域。与此相一致的是，STM 图像显示金红石 TiO2 作为离散岛生长，并且可以沿底层基底 W(100)-O(2 × 1) 的任一主方向排列。高分辨率 STM 图像揭示了金红石岛上的原子级行和点缺陷的存在，这是天然金红石 TiO2(110)-(1 × 1) 的特征。
Ultrathin films of rutile TiO2(110) have been grown on a W(100)-O(2 × 1) surface and characterized with a combination of scanning tunneling microscopy (STM) and low-energy electron diffraction (LEED). LEED shows the presence of two orthogonal rotational domains of rutile TiO2(110). In line with this, STM images reveal that the rutile TiO2grows as discrete islands and can be aligned in either of the principal directions of the underlying substrate W(100)-O(2 × 1). High-resolution STM images reveal atomic-scale rows and the presence of point defects on the rutile islands that are characteristic of the native rutile TiO2(110)-(1 × 1).