OMVPE成長の半導体ヘテロ界面その場観察に向けた実験室系X線CTR散乱測定(EMS賞受賞)
OMVPE成長の半導体ヘテロ界面その場観察に向けた実験室系X線CTR散乱測定(EMS賞受賞)
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基于实验室的 X 射线 CTR 散射测量，用于 OMVPE 生长中半导体异质界面的原位观察（EMS 奖获得者）
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
竹田美和
中科院分区：
文献类型：
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作者：
水野哲也;前田義紀;神谷肇;森晶子;田渕雅夫;竹田美和
