ベイズ手法による量子ドット電荷状態推定のノイズ依存性
ベイズ手法による量子ドット電荷状態推定のノイズ依存性
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使用贝叶斯方法估计量子点电荷状态的噪声依赖性
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
大塚朋廣
中科院分区：
文献类型：
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作者：
武藤由依;篠﨑基矢;北田孝仁;永安修也;中島峻;Matthieu R. Delbecq;米田淳;武田健太;野入亮人;Sen Li;伊藤匠;樽茶清悟;大塚朋廣
